檢測(cè)工藝--AOI/ICT您當(dāng)前位置:主頁(yè) > SMT工藝類設(shè)備 > 檢測(cè)工藝--AOI/ICT >
詳細(xì)介紹
|
||||||||||
【備 注】:
放在倍率:21X--135X |
注意:如果產(chǎn)品升級(jí)恕不另行通知,網(wǎng)站及資料會(huì)同步升級(jí),并以實(shí)物為準(zhǔn)!
本頁(yè)關(guān)鍵詞:PCB檢測(cè)儀,芯片檢測(cè)儀,檢查顯微鏡,芯片顯微鏡
相關(guān)產(chǎn)品